熱釋發光指的是物質受到電離輻射等作用後，將輻射能量儲存與陷阱中。當加熱時，陷阱中的能量便以光的形式釋放出來的現象。
熱釋光劑量片所用檢測設備的基本工作原理是：經輻照後的待測元件由儀器內的電熱片或熱氣等加熱，待測元件加熱後所發出的光，通過光路系統濾光、反射、聚焦後，通過光倍增值管轉換成電信號。輸出顯示可用率表指示出發光峰的高度（峰高法）或以數字顯示出電荷積分值（光和法），再換算出待測元件所接收到的照射量。
熱釋光劑量片應具有的现有產品特性：
1、外觀：探測器外觀要細膩，其顔色要一致、無起泡、無裂紋、無掉角(方片)。
2、熱釋發光曲線：熱釋發光曲線是探測器的一個重要指標，其性能對測量結果有直接影響。
3、分散性：分散性是探測器的一個重要指標，用戶需根據要求來確定探測器的分散性。
4、重複性：重複性是探測器的一個重要指標，一組n個探測器重複測量下列劑量時，評定值的變異系數應不超過7.5%;並且對于全組亦應不超7.5%。
5、方向性：探測器靈敏度與輻射入射方向的依賴關系。它與射線的能量和探測器的形狀有關。
6、能量相應：即熱釋光靈敏度與輻照能量的依賴關系。它與原件材料的原子序數、顆粒度、射線種類有關。一般原子序數高的元件比原子序數低的元件能量相應差，因此使用時需要外加過濾器進行能量補償。
7、衰退：只受過輻照的磷光體，熱釋光會自行減弱。衰退的快慢與磷光體種類、環境溫度、光照等因素有關。如果測量LiF的主峰，在室溫下可以保存幾十天。
